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Système de mesure de puissance optique X-Cite®

Système de mesure de puissance optique X-Cite®

Le système de mesure de puissance optique X-Cite® inclut le système de mesure de puissance X-Cite® XR2100 et le capteur de puissance plan pour objectif X-Cite® XP750. Conçu pour mesurer la puissance optique en watts au niveau du spécimen, le système X-Cite® XP750 dispose d'un profil mince et lisse qui est adapté à la platine des microscopes, et permet de mesurer la puissance d'un illuminateur X-Cite® ou de toute autre source de lumière épifluorescente.

Les modèles X-Cite® XR2100 et X-Cite® XP750 vous permettent de mesurer la puissance optique au niveau du spécimen, pour un éclairage cohérent et en mesure d'être répété au fil des expériences. Ils contribuent également à la configuration et au dépannage des équipements. L'interface PC et l'outil « Power Snapshot » permettent de stocker facilement les données sous forme électronique, pour des dossiers d'expérience complets.

Le modèle X-Cite® XR2100 calibre l'illuminateur X-Cite® exacte à l'aide des données de puissance du port d'entrée par le guide de lumière ou de l'appareil X-Cite® XP750 sur le plan pour objectif, pour une répétitivité optimale.

  • » Fonctionnalités et avantages
  • » Spécifications XR2100
  • » Spécifications XP750

Caractéristiques

Avantages
X-Cite® XP750
Dimensions de lame de microscope à profil mince Tient dans une pince de microscope standard pour une mesure pratique de la lumière directement à l'objectif, sans retirer ou reconfigurer l'équipement
Compatible avec les lampes et les sources de lumière LED et laser Utilisation économique d'un système pour plusieurs microscopes, quelle que soit la technologie d'éclairage
Grande surface de détection : 10 mm Approprié pour une utilisation avec des objectifs de faible et fort grossissement
Aucune focalisation requise Obtention rapide de mesures précises
Large plage de longueurs d'ondes et de puissances Approprié pour une large gamme d'applications et de configurations de microscope
X-Cite® XP750 & XR2100
Écran LCD rétroéclairé Affichage clair des données, même dans des conditions d'imagerie microscopique avec éclairage diffus
Deux ports d'entrée pour la mesure de puissance via un capteur plan pour objectif ou un guide de lumière Choix de contrôle de performance de la source de lumière de l'ensemble du système du microscope ou des composants individuels
Calibrage traçable aux normes NIST*/NRC** Assurance qualité et confiance dans la précision des résultats
Collecte, stockage et exportation des données en un clic/avec un bouton Organisation des données avec archivage précis des dossiers sans support papier
Interface PC Gestion aisée des paramètres et des données sur PC; automatisation pratique pour une utilisation OEM
Compatibilité avec la fonction de calibrage X-Cite® exacte Calibrage facile de X-Cite® exacte avec guide de lumière ou capteur plan pour objectif pour afficher et paramétrer la puissance en watts

Spécifications

  
Inclut Appareil de mesure de puissance portable, adaptateur pour guide de lumière de 3 mm, CD avec logiciel, câbles, manuel d'utilisation
Amplitude de puissance 50 mW à 10 W
Résolution de mesure 0,1 mW à 0,01 W
Plage d'exactitude*** ± 5 %
Temps de réponse 1 seconde
Calibrage Traçable en NIST*
Plage de longueurs d'ondes : 340 nm à 675 nm
Compatibilité type de lampe/source lumineuse X-Cite® exacte, X-Cite® 120 Series (avec port d'entrée par le guide de lumière de 3 mm)
Compatibilité de l'objectif Ne s'applique pas
Écran LCD à 3 chiffres, rétroéclairé
Sélection de longueurs d'ondes Ne s'applique
Capacité de données Stockage de plus de 100 relevés dans l'unité portable ou enregistrement direct dans l'interface PC ; exportation dans un format compatible avec les feuilles de données
Commandes PC Affichage/modification des paramètres, téléchargement/exportation des données stockées
Protocole de commandes RS232 via port COM virtuel USB
Alimentation 2 piles au lithium de 3,6 V
Poids 450 g
Dimensions (sans le couvercle) 19 cm x 11,5 cm x 5 cm
Certifications mondiales Marque CE
Garantie 1 an
Brevets Le système de mesure de puissance optique X-Cite® intègre une technologie protégée par les brevets américains suivants : n° 6,437,861, n° 7,335,901

Spécifications

  
Inclut Capteur de puissance plan pour objectif avec câble/connecteur pour X-Cite® XR2100
Amplitude de puissance 5 µW à 500 mW
Résolution de mesure 0,01 µW à 1 mW
Plage d'exactitude*** ± 6 %
Temps de réponse 600 millisecondes (initialement), 3 secondes (pour permettre une lecture stable)
Calibrage Traçable en NRC**
Plage de longueurs d'ondes : 320 nm à 750 nm
Compatibilité type de lampe/source lumineuse X-Cite® exacte, X-Cite® 120, oxygène hyperbare/mercure, halogénures métalliques, xénon, LED, laser
Compatibilité de l'objectif 4X-63X ; accouplement à air, avec des diamètres de champs de vision inférieurs à 10 mm
Écran Via X-Cite® XR2100
Sélection de longueurs d'ondes Incréments de 1 nm à l'aide des boutons haut/bas sur le modèle X-Cite® XR2100 ou l'interface PC
Capacité de données Via X-Cite® XR2100
Commandes PC Affichage/changement des paramètres, définition des longueurs d'ondes préférées, enregistrement des données pour plusieurs paramètres d'objectifs/de filtres/de paramètres d'intensité, téléchargement/exportation des données stockées
Protocole de commandes Via X-Cite® XR2100
Alimentation Via X-Cite® XR2100
Poids 82 g
Dimensions (sans le couvercle) 75 mm x 25 mm x 9 mm
Certifications mondiales Via X-Cite® XR2100
Garantie 1 an
Brevets Le système de mesure de puissance optique X-Cite® intègre une technologie protégée par les brevets américains suivants : n° 6,437,861, n° 7,335,901

*NIST - National Institute of Standards and Technology
**NRC - National Research Council
***Il est recommandé de calibrer les systèmes X-Cite® XR2100 et X-Cite® XP750 tous les douze mois. Veuillez contacter la Division des sciences de la vie et de l'industrie (Life Sciences & Industrial Division) d'EXFO pour plus d'informations.